GB/T6672 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪
gb/t6672 薄膜厚度测量仪
labthink兰光chy-c2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪满足多项国家和标准：iso 4593、 iso 534、 iso 3034、 gb/t 6672、 gb/t 451.3、 gb/t 6547、 astm d645、 astm d374、 astm d1777、 tappi t411、 din 53105、 din 53353、 jis k6250、 jis k6328、 jis k6783、 jis z1702、 bs 3983、bs 4817 ，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
chy-c2 薄膜测厚仪 特征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、pvc操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力（非标可选）
标准量块标定
微型打印机
rs232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
chy-c2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪技术指标
测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kpa（薄膜）；50±1kpa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源：ac 220v 50hz
外形尺寸：300 mm （l）×275 mm （b）×300 mm （h）
净重：33kg
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以上chy-c2薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪信息由labthink发布，：
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【】介绍
专业致力于检测理论研究与实验室建设，服务于纺织、包装、印刷、胶粘剂及车用非金属行业的品质控制事业，拥有的高分子聚合物阻隔性实验室，已为世界各地 4000 多家客户提供多层次专业化服务及数万套检测设备。凭借专业精深的研究理念及创新的人才精英团队， labthink 兰光以完备的研究设施、完整的核心技术、完善的解决方案著称包装测试行业。
labthink兰光产品如下：透氧仪、透湿仪、薄膜拉力机、顶空分析仪、透气性测试仪、密封试验仪、摩擦系数仪、热缩试验仪、热封试验仪、落镖冲击试验仪、摆锤冲击试验仪、墨层结合牢度试验机、薄膜测厚仪、持粘性测试仪、纸箱抗压机、电子剥离试验机、初粘性测试仪、撕裂度仪等。
一键式测量仪特点
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