大面积可控单晶石墨烯多层堆垛制备技术新突破
多层石墨烯及其堆垛顺序具有*的物理特性及全新的工程应用，可以将材料从金属调控为半导体甚至具有超导特性。石墨烯薄膜的性质相对于层数及其晶体堆垛顺序有很大变化。例如，单层石墨烯表现出*的载流子迁移率，对于超高速晶体管尤为重要。相比之下，ab堆垛的双层或菱面体堆垛的多层石墨烯在横向电场中显示出可调的带隙，从而产生了高效的电子和光子学器件。此外，有趣的量子霍尔效应现象也主要取决于其层数和堆垛顺序。因此，对于大面积制备而言，能够控制石墨烯的层数以及晶体堆垛顺序是非常重要的。
近日，韩国基础科学研究所（ibs）young hee lee教授和釜山国立大学se-young jeong教授在期刊《nature nanotechnology》以“layer-controlled single-crystalline graphene film with stacking order via cu-si alloy formation” 为题报道了采用化学气相沉积的方法来实现大面积层数及堆垛方式可控的石墨烯薄膜的突破性工作。为石墨烯和其他2d材料层数的可控生长迈出了非常重要的一步。
文章提出了一种基于扩散至升华（dts）的生长理论，实现层数可控生长的关键是在铜箔基底上先可控生长sic合金，具体来讲（如图1所示），首先在cvd石英腔室内原位形成cu-si合金，之后将ch4气体引入反应室并催化成c自由基，形成sic，随后温度升高至1075℃以分解si-c键，由于蒸气压使si原子升华。因此，c原子被留下来形成多层石墨烯晶种，在升华过程中，这些晶种横向扩展到岛中（步骤iii），并扩展致边缘。在给定的si含量下注入不同浓度稀释的ch4气体，可以控制si-cu合金中石墨烯的层数。图1e显示了在步骤ii中引入不同稀释浓度ch4气体时c含量的sims曲线，在较高ch4气体浓度下，c原子更深地扩散到cu-si薄膜中，形成较厚的sic层，然后生长较厚的石墨烯薄膜。由此实现可控的调节超低极限ch4浓度引入c原子以形成sic层，在si升华后以晶圆级尺寸生长1-4层石墨烯晶体。
图1. 不同生长过程中的光学显微镜结果，生长示意图及xps能谱和不同生长步骤中si和c含量的二次离子质谱sims曲线
随后，为了可视化堆垛顺序并揭示晶体取向的*电子结构，进行了nano-arpes光谱表征，系统研究了单层，双层，三层和四层石墨烯的能带结构（图2a-d），随着石墨烯层数增加，上移的费米能级逐渐下移。另外，分别根据g和2d峰之间的ig/i2d强度比和拉曼光谱二维模式的线形来确定石墨烯薄膜的层数和堆垛顺序。ig/i2d随着层数增加而增加（从0.25到1.5），并且2d峰发生红移（从2676 cm-1到2699 cm-1）。后，双层、三层和四层石墨烯的堆垛顺序通过双栅极器件的电学测量得到了确认（图2i-k）。在双层石墨烯（图2i）中，沟道电阻（在电荷中性点处）在高位移场下达到大值，从而允许使用垂直偶极电场实现带隙可调性。在三层器件上进行了类似的测量（图2j），与ab堆垛的双层相反，由于导带和价带之间的重叠，沟道电阻随着位移增加而减小，这可以通过改变电场来控制，从而确认了无带隙的aba-三层石墨烯。在四层器件中也观察到了类似的带隙调制（图2k），确认了abca堆垛顺序。
图2. 不同层数的石墨烯样品的nano-arpes,拉曼及电学输运表征
本文通过在cu衬底表面上使用sic合金实现了可控的多层石墨烯，其厚度达到了四层，并具有确定的晶体堆垛顺序。略显遗憾的是本文并没有对制备的不同层数的石墨烯样品进行电导率，载流子浓度及载流子迁移率的标准测试。值得指出的是，近期，西班牙das-nano公司基于thz-tds技术研发推出了一款可以实现大面积（8英寸wafer）石墨烯和其他二维材料100%全区域无损非接触快速电学测量系统-onyx。onyx采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术（thz-tds）弥补了传统接触测量方法（如四探针法- four-probe method，范德堡法-van der pauw和电阻层析成像法-electrical resistance tomography）及显微方法（原子力显微镜-afm, 共聚焦拉曼-raman，扫描电子显微镜-sem以及透射电子显微镜-tem）之间的不足和空白。onyx可以快速测量从0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二维材料的电学特性，为科研和工业化提供了一种颠覆性的检测手段。
onyx主要功能：
→直流电导率（σdc）
→载流子迁移率,μdrift
→直流电阻率,rdc
→载流子浓度,ns
→载流子散射时间，τsc
→表面均匀性
onyx应用方向：
石墨烯 光伏薄膜材料 半导体薄膜 电子器件
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图1. 不同生长过程中的光学显微镜结果，生长示意图及xps能谱和不同生长步骤中si和c含量的二次离子质谱sims曲线
随后，为了可视化堆垛顺序并揭示晶体取向的*电子结构，进行了nano-arpes光谱表征，系统研究了单层，双层，三层和四层石墨烯的能带结构（图2a-d），随着石墨烯层数增加，上移的费米能级逐渐下移。另外，分别根据g和2d峰之间的ig/i2d强度比和拉曼光谱二维模式的线形来确定石墨烯薄膜的层数和堆垛顺序。ig/i2d随着层数增加而增加（从0.25到1.5），并且2d峰发生红移（从2676 cm-1到2699 cm-1）。后，双层、三层和四层石墨烯的堆垛顺序通过双栅极器件的电学测量得到了确认（图2i-k）。在双层石墨烯（图2i）中，沟道电阻（在电荷中性点处）在高位移场下达到大值，从而允许使用垂直偶极电场实现带隙可调性。在三层器件上进行了类似的测量（图2j），与ab堆垛的双层相反，由于导带和价带之间的重叠，沟道电阻随着位移增加而减小，这可以通过改变电场来控制，从而确认了无带隙的aba-三层石墨烯。在四层器件中也观察到了类似的带隙调制（图2k），确认了abca堆垛顺序。
图2. 不同层数的石墨烯样品的nano-arpes,拉曼及电学输运表征
本文通过在cu衬底表面上使用sic合金实现了可控的多层石墨烯，其厚度达到了四层，并具有确定的晶体堆垛顺序。略显遗憾的是本文并没有对制备的不同层数的石墨烯样品进行电导率，载流子浓度及载流子迁移率的标准测试。值得指出的是，近期，西班牙das-nano公司基于thz-tds技术研发推出了一款可以实现大面积（8英寸wafer）石墨烯和其他二维材料100%全区域无损非接触快速电学测量系统-onyx。onyx采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术（thz-tds）弥补了传统接触测量方法（如四探针法- four-probe method，范德堡法-van der pauw和电阻层析成像法-electrical resistance tomography）及显微方法（原子力显微镜-afm, 共聚焦拉曼-raman，扫描电子显微镜-sem以及透射电子显微镜-tem）之间的不足和空白。onyx可以快速测量从0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二维材料的电学特性，为科研和工业化提供了一种颠覆性的检测手段。
onyx主要功能：
→直流电导率（σdc）
→载流子迁移率,μdrift
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→载流子浓度,ns
→载流子散射时间，τsc
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