关于镀层测厚仪技术特征上的详细内容讲解
测试镀层厚度有专门的检测仪，电镀镀层检测仪。可能大家对镀层测厚仪不是很了解，这是检测分析金属镀层厚度的仪器设备。目前在市场上，使用比较多的是x射线(xrf)荧光镀层测厚仪，在使用中有喝多优点，不论是测试对象还是测试方法，相对其他类型测厚仪都有优势。
iedx-150wt镀层测厚仪
一、镀层测厚仪的特性：
若产生x-射线荧光是由于转移一个电子进入k轨道，一个k轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为k辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如kα辐射是电子由l轨道跳至k轨道的一种辐射，而kβ辐射是电子从m轨道跳至k轨道的一种辐射，其间是有区别的。若x-射线荧光是一个电子跳入l的空轨域，此种辐射称为l辐射。同样的l辐射可划分为lα辐射，此是由m轨道之电子跳入l轨道及lβ辐射，此是由n轨道之电子跳入l轨道中。由于kβ辐射能量约为kα的11%，而lβ辐射能量较lα大约20%，所以以能量的观点lα及lβ是很容易区分的。
镀层测厚仪在开始测试时候进行几次简单的测试工作，不仅是确保设备的可用性(正常性)，同时也检验镀层测厚仪各个接口是否符合标准;
二、镀层测厚仪的原理
1、首先对我们要了解xrf如何测量元素成分含量的：
一个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示：f▪i=c,(这里c是样品含量，f是光谱中此元素比例系数，i是此元素在光谱中的激发强度)，首先标样中已知c(此处用百分比表示)，将此标样放入光谱，按着测试条件开x射线激发标样，此时得到一个i的值，c/i=f(这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数)。
之后，待测样品放入光谱，同样条件用x射线激发样品，获得待测样品的i值，用这个i值乘以之前得到的f值，f▪i=c 就能计算出此样品的含量c的值，这就是xrf测量元素含量的基本原理。
2、镀层测厚仪膜厚原理：
同理,th=f▪i （这里th是厚度，单位微米或其他长度单位）
首先也是用标样来标定，求出此样品的某元素镀层厚度强度比f。
测试待测样品时，用待测样品的镀层元素激发的i值乘以之前得到的f值，f▪i=th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。
以上内容是对镀层测厚仪技术特征上面的讲解，最后要提醒大家的是所得数据，不能只单看一面，要综合多方面的测试结果，从而合理判断，其中涉及到数据有max值、min值、误差值以及平均值等等。
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