四探针探头的选择

四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择
四探针电阻率方阻测试︱四探针探头的选择:
四探针探头是四探针法测试电阻率/方阻测试系统的关键部件。探头通过四根探针,以适当的压力和点阵形式与样品接触,连接四探针仪器后,实现四探针法电流的加载,电压的取样。应根据样品的物理特性,如是固体还是粉末,是一般硅片、金属等硬质材料还是柔性薄膜、涂层、ito膜类材料,是单一导电层材料还是复合导电层,样品的尺寸大小等条件来选择探头的压力和点阵形式,选择型号。
表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》
序号
型号
名称
特征图片
规格参数
选用场合
1
st2253-f01
钨针直线四探针探头
直线四探针针距:1+1+1,探针:碳化钨针
硅片、金属等硬材料电阻率/方阻测试
2
st2558a-f01
光伏电池片方阻直线四探针探头
直线四探针针距:2+2+2,探针:长钢尖针
硅材料光伏电池片方阻测试
3
st2558a-f02
薄膜方阻刀型测试台
刀型测试台刀距100,刀宽100
柔性薄膜、金属涂层膜方阻测试
4
st2558b-f01
薄膜方阻直线四探针探头
直线四探针针距:2+2+2,探针:镀金磷铜半球形针尖
柔性薄膜、金属涂层膜、ito膜电阻率/方阻测试
5
st2558b-f02
箔上涂层电阻率方阻四端子探头
针距8,直径4探针:圆柱平端面
箔上涂层电阻率/方阻测试
6
st2558b-f03
薄膜方阻直线四探针探头
直线四探针针距1+1+1,探针:镀金磷铜半球形针尖
柔性薄膜、金属涂层膜、ito膜电阻率/方阻测试
7
st2571a-f01
薄膜方阻矩形四探针探头
矩形四探针针距1x1探针:碳化钨针
硅片电阻率和方阻仪
8
st2571a-f02
薄膜方阻矩形四探针探头
矩形四探针针距1x1探针:镀金磷铜半球形针尖
柔性薄膜、金属涂层膜、ito膜电阻率/方阻测试
9
st2571a-f03
薄膜方阻矩形四探针探头
矩形四探针针距2x2探针:镀金磷铜半球形针尖
柔性薄膜、金属涂层膜、ito膜电阻率/方阻测试

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