xrf分析仪主要由激发源(x射线管)和探测系统构成。其原理就是:x射线管通过产生入射x射线(一次x射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次x射线(又叫x荧光),并且不同的元素所放射出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性。xrf分析仪一般有以下三点分析模式:
1、点分析
将电子探针固定在试样感兴趣的点上,进行定性或定量分析。该方法用于显微结构的成份分析,例如,对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、奇异相及非化学计量材料的组成等分析。
2、线分析
电子束沿一条分析线进行扫描(或试样扫描)时,能获得元素含量变化的线分布曲线。如果和试样形貌像(二次电子像或背散射电子像)对照分析,能直观地获得元素在不同相或区域内的分布。沿感兴趣的线逐点测量成分,也可以划出该线的成分变化曲线。
3、面分析
将电子束在试样表面扫描时,元素在试样表面的分布能在crt上以亮度分布显示出来(定性分析),亮度越亮,说明元素含量越高。研究材料中杂质、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常与形貌像对照分析。
点、线、面分析方法用途不同,检测灵敏度也不同,定点分析灵敏度zui高,面扫描分析灵敏度zui低。
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