关于集成电路的电磁兼容测试

集成电路电磁兼容的标准化由于集成电路的电磁兼容是一个相对较新的学科，尽管对于电子设备及子系统已经有了较具体的电磁兼容标准，但对于集成电路来说其测试标准却相对滞后。国际电工委员会第47a技术分委会(iec sc47a)早在1990年就开始专注于集成电路的电磁兼容标准研究。此外，北美的汽车工程协会也开始制定自己的集成电路电磁兼容测试标准sae j 1752，主要是发射测试的部分。1997年，iec sc47a下属的第九工作组wg9成立，专门负责集成电路电磁兼容测试方法的研究，参考了各国的建议，至今相继出版了150khz－1ghz的集成电路电磁发射测试标准iec61967和集成电路电磁抗扰度标准iec62132 。此外，在脉冲抗扰度方面，wg9也正在制定对应的标准iec62215。目前，iec61967标准用于频率为150khz到1ghz的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分：第一部分：通用条件和定义(参考sae j1752.1)；第二部分：辐射发射丈量方法——tem小室法(参考sae j1752.3)；第三部分：辐射发射丈量方法——表面扫描法(参考sae j1752.2)；第四部分：传导发射丈量方法——1ω/150ω直接耦正当；第五部分：传导发射丈量方法——法拉第笼法wfc(workbench faraday cage)；第六部分：传导发射丈量方法——磁场探头法。iec62132标准，用于频率为150khz到1ghz的集成电路电磁抗扰度测试，包括以下五部分：第一部分：通用条件和定义；第二部分：辐射抗扰度丈量方法—— tem小室法 ；第三部分：传导抗扰度丈量方法——大量电流注进法(bci) ；第四部分：传导抗扰度丈量方法——直接射频功率注进法(dpi) ；第五部分：传导抗扰度丈量方法——法拉第笼法(wfc)。iec62215标准，用于集成电路脉冲抗扰度测试，包括以下三部分，但尚未正式出版：第一部分：通用条件和定义；第二部分：传导抗扰度丈量方法——同步脉冲注进法 ；第三部分：传导抗扰度丈量方法——随机脉冲注进法参考(iec61000-4-2和iec61000-4-4) 。下文主要针对iec61967 和iec62132的测试方法进行讲解。

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