系列配合起偏,检偏及dic微分干涉,可以很好的观察屏的导电粒子,确认导电粒子个数是否符合要求。
首先,需要观察导电粒子必须要有配有dic及起偏检偏器的金相显微镜。对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不超过20倍为好,超过后会由于景深的问题导致观察效果模糊,无法观察到好的效果。
准备好金相显微镜及必要的屏后就可以开始观察导电粒子了。首先把dic及起偏检偏拉出,然后把屏放置在载物台上,调整好焦距,通过载物台移动后找到观察位置。现在插入起偏及检偏器,通过目镜观察屏上位置,再调节检偏器,直到光线黑时停止调节检偏器。后插入dic,调节dic进行偏光直到看到导电粒子清晰时就可以停止了。
产品名称:导电粒子显微镜
产品型号:pz-jtm-5040h
产品简介:主要用于lcd、pdp、pcb等相关的光电产业,为其研发、制造提供所需的检测设备。具有观察olb压接粒子分布、液晶板表面贴附的异物、液晶板划伤情况、测量导电粒子大小、数量等功能
产品特点:
导电粒子显微镜是一种兼顾影像与目视两用的高精度、率测量仪器。它具有电视成像与目视光学两套瞄准系统,是集光、机、电、算、影像于一体的测量型金相显微镜。该仪器广泛用于电子组件、精密模具、精密刀具、塑料、pcb加工等方面,不仅可用作坐标测量,还可以目镜标准分划板作显微放大比较测量,测量螺纹的节距、外径、牙角等工件尺寸或外形轮廓,acf导电粒子形状和瑕疵观察,除应用于长度、角度测量外,还可作为观察显微镜。是机械、电子、仪表、钟表、轻工、塑料行业,院校、研究所和计量检定部门的计量室、实验室已经生产车间*的计量检测设备之一。
1. 符合人机工程学设计准则方便操作测量
2. 工作台一键式气动单手快速移动操作
3. 可实现z轴自动对焦
4. 具有偏光和dic检测功能
5. 采用被动式减震装置,提高整机精度稳定性
6. 开发qms3d-m软件,高清晰进口1/2彩色摄像机
7. 可通过激光指示器寻找被测工件的具体位置,可适应复杂工件的测量
8. 可实现高度辅助测量
9. z轴光栅尺分辨力为0.1μm
10. 同轴光/底光测量
11. 可搭配白光纳米检测模块测量纳米级厚度
规格参数:
规格型号
jtm-5040h
工作台
玻璃台尺寸(mm)
570*470
运动行程(mm)
500* 400
z轴电动升降行程(mm)
200
光栅尺分辨力(μm)
0.1μm
x、y坐标示值误差(μm)
2.5+ l/75 (l为测量长度,单位mm)
影像系统
彩色1/2”ccd摄色机:;结合测量软件qms3d-m
显微镜系统
三目头
目镜:10倍
滤光片:黄、绿、蓝、白
量测模式:反射,透射,偏光
5孔物镜转换镜
照明系统
透射照明光源:白光led,亮度可调
同轴照明光源:12v 100w卤素灯,亮度可调
物镜
倍率
5x
10x
20x
50x
工作距离 (mm)
18.0
15.0
4.5
11.0
总放大倍率
目视
50x
100x
200x
500x
19寸视频
301.625x
603.25x
1206.5x
3016.25x
高度量测模块
(选配件)
白光干涉高度测量模块(m10-ca),高度量测分辨率0.5 μm (选配):倍率10x,工作距离5mm,光学分辨力2um
其他参数
外形尺寸 (mm)
1270*1150*1860
仪器重量 (kg)
850
电源功耗
~220v 50/60hz < 60w(不包含计算机)
北京品智创思精密仪器有限公司
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