AMETEK CAMECA发布研究和工业用高负荷耐用型原子探针显微镜
作为科学仪器和测量解决方案领域的*，ametek cameca正式发布新款原子探针显微镜 eikos-uv。eikos-uv 原子探针显微镜耐受高负荷工作强度，使用更方便，同时具有较低的拥有成本。此款显微镜采用标准显微镜试样制备方法，可提供纳米级结构信息，从而获得对研究材料的全新了解，同时加快工业应用产品的开发进程。
“cameca 十分自豪地推出 eikos-uv。” cameca 事业部经理 jesse olson 博士这样说道。“我们相信，无论是采用电压脉冲模式还是紫外线激光脉冲模式，通过eikos-uv，显微镜技术人员、研究者和工程师行业的众多新手都能够掌握原子探针断层分析术，从而在原子层面对其材料进行成像处理”。
olson 继续说道，“cameca 在原子探针测量仪器和应用开发领域拥有 30 余年成功经验的积淀，并在此基础上推出全新 eikos-uv 平台，从而樶大程度提升商用合金和大学层面的关键研究利用价值。通过 eikos-uv 的设计、布局和空间构造，可根据现场的要求进行灵活配置，可靠性高和使用方便的特性得益于两项主要仪器创新设计：通过预调节内置电极，无需进行现场调节，以及全新 355 nm 激光脉冲系统”。
eikos-uv 应用十分广泛，其中包括金属、半导体、功能性材料、矿物、原子结构材料、薄膜和涂层。所用标准试样制备方法和成熟数据分析流程，使其成为适用于纳米级材料研究和工业材料开发、耐受高负荷强度的主力仪器，以及 cameca 原子探针断层分析术产品系列的重要扩展。
eikos-uv 可提供两个配置方式。个是基础 eikos 系统，其中融合了反射光谱仪的设计，通过电压脉冲系统获得很好的质量分辨率和噪声信号，以确保在涵盖广泛的冶金应用中实现*的数据质量。第二个是全配置 eikos-uv 系统，其中将计算机控制的焦点设计加入集成式自动化激光脉冲模块，以实现更大应用范围，以及更高等级的噪声信号。基础型 eikos 系统可在现场升级至 eikos-uv。
原子探针断层分析术(apt 或 3d apt)是仅有的在子级三维空间成像和化学成分测量方面都能够实现全面原子级应用的材料分析技术。此项技术在 20 世纪 60 年代研发成功，从那时起就一直对材料科学的重大进步产生了重要作用。原子探针显微镜由 cameca 进行专属研发和制造，已应用于研究和开发实验室。
cameca 原子探针断层分析术系列产品，现在有两个产品系列：leap 5000(本地电极原子试样)，其中采用具有纳米级分辨率、速度快、灵敏度樶高的三维成像和分析，应用极为广泛(金属、氧化物、陶瓷、能量储存材料、半导体和电子器件、生物矿物和地质化学);以及全新推出的 eikos-uv 产品系列，在学术和工业应用中，使用都十分方便，而且成本低，从而有利于原子探针断层分析术的推广应用。
关于 cameca
cameca®拥有60余年材料显微和纳米分析应用领域的科学仪器设计、制造和维护经验。自从在 20 世纪 50 年代完成具有开创性的电子探针显微分析 (empa)，以及 60 年代推出二次离子质谱仪 (sims)以来，cameca 一直是*的，在一些辅助技术领域实现了无数项创新突破，例如低能量电子感应 x 射线发射光谱法(lexes)和原子探针断层分析术 (apt)。
cameca是阿美特克材料分析部门成员，阿美特克是电子仪器和机电设备的*，年销售额约为50亿美金。为材料分析、超精密测量、过程分析、测试测量与通讯、电力系统与仪器、仪表与控制、精密运动控制、电子元器件与封装、特种金属产品等领域提供技术解决方案。共有17,000多名员工，150多家工厂，在美国及其它30多个设立了100多个销售及服务中心。
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