ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片电阻测试特征?

ae-162e 用于超高速芯片电阻测试
非常适合 d、f、g、j、k 级、片式、melf、
径向和轴向电阻器的分选机和编带机。
兼容极小芯片(低功耗测量)
超高速0.7msec.(典型值)
热电动势抵消测量带来高精度和稳定性
通过每个量程的测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量。
%测量:±99.99% [5mω ~ 109mω]
绝对测量:0.00mω~200.00mω
接触检查:测量前/测量后/关闭可选
rs-232c接口标准设备(gp-ib可选)
打印机输出标准设备(centronics兼容)
标准设置值传输功能:(相同的设置数据可以传输到另一台ae-162e以进行自动设置。)
标准配备测量电流/测量电压异常检查电路
兼容极小芯片(低功耗测量)
超高速0.7msec.(典型值)
热电动势抵消测量带来高精度和稳定性
通过每个量程的测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量。
%测量:±99.99% [5mω ~ 109mω]
绝对测量:0.00mω~200.00mω
接触检查:测量前/测量后/关闭可选
rs-232c接口标准设备(gp-ib可选)
打印机输出标准设备(centronics兼容)
标准设置值传输功能:(相同的设置数据可以传输到另一台ae-162e以进行自动设置。)
标准配备测量电流/测量电压异常检查电路

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