铁金属材料的非磁性薄膜厚度测量技术

铁金属材料的非磁性薄膜厚度测量技术
便携式膜厚仪qnix系列的特点
无需薄膜校准即可进行精确的薄膜厚度测量
出厂时输入 16 点校准数据即可交付。
这消除了繁琐的薄膜校准工作,并实现了精确的薄膜厚度测量。
薄膜厚度测量数据传输新技术
在传统的测量仪器中,测量数据是通过用电缆连接仪器主体和个人计算机来传输的。qnix 系列使用,只需将其插入 usb 端口即可进行传输。可以更快、更轻松地查看测量数据。
超轻量无线测量仪
探头测量的数据以无线方式传输到主机。与传统产品一样,它还降低了被电缆卡住、挡路和导致坠落事故的风险。此外,探头重 30 克,超轻巧,因此您不必随身携带沉重的仪器。
不易折断且在被测物体上无痕迹的探头
qnix 系列探头采用增强塑料包围,可将耐用性提高 30%。即使发生故障,也很容易拆卸和维修,因此缩短了维修周期。此外,附有红宝石前端,因此可以安全地进行测量,而不会损坏待测物体(样品)。
qnix系列比较规格表
qnix 8500
qnix
4500/4200
qnix 7500
qnix 验车
系统
qnix handy
可测量薄膜
[f] 铁材料上的非磁性涂层
[n] 非铁材料上的非磁性涂层
[fn] 铁/非铁材料上的非磁性/非导电涂层。
[fn]铁和非铁材料上的非磁性、非导电涂层。
[fn]铁铝材料上
的非磁性非导电
膜厚
材料识别
铁和非铁材料的
自动识别交换
铁和非铁材料的自动识别交换
用户规定的转换
铁和非铁材料的
自动识别交换
铁/非铁,自动
识别模式转换
测量原理
[f] 磁通量(霍尔效应)
[n] 涡流
测量范围
0 至 2,000 μm
(选项:5,000 μm)
0 ~ 3,000 微米
0 至 2,000 μm
(选项:5,000 μm)
0 ~ 5,000 微米
0~500微米
分辨率
0.1 μm、1 μm
[m] 0.01 μm
1微米
0.1微米
0.1微米,1微米
5微米
配置格式
0点校正
用户校准:1
[m]100个
0点校正
0点校正
无校准功能
无校准功能
准确性
± (1 μm + 2%)
± 3.5%
(2 mm 或更大)
[t] ±
(0.3 μm + 2%)
± (2 微米 + 3%)
± (1 微米 + 3%)
± (1 μm + 2%)
± 3.5%
(2 mm 或更大)
± (10 微米 + 5%)
测量速度
(约40次/分钟)
[t] 920ms
(约65次/分钟)
[r] 1,600ms
600ms(约70次/分钟)
1,300ms(约46次/分钟)
1,500ms(约40次/分钟)
600ms(约100次/分钟)

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