densoku电解膜厚计的原理分析
densoku各类膜厚计的原理
镀膜厚度是通过阳极电解法溶解镀膜来测量的。（阳极电解电路见图1。）在镀膜结束时，由于测量部分被恒流溶解，膜金属消失，当金属出现时，阳极电压发生变化，检测到此电压变化以结束测量。（见图2）
电解膜测厚仪的特点虽然是破坏型测量，但可以通过简单的测量进行测量，也可以测量多层镀层。
可测量双镍和三镍各层的膜厚和电位差
可以分别测量在铜上镀锡时形成的纯锡层和合金层的厚度。
可测量 x 射线无法测量的厚多层镀层（最大 300 μm）
通过使用电线测试仪，可以测量细电线上的镀膜厚度。
使用示例镀锡线（镀锡铜线）纯锡层厚度测量
汽车外饰件用cr/ni/cu三层镀层测量，ni镀层用双镍/三镍电位差测量
对无损膜厚计的测量进行交叉检查
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